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Titre : Tous
- Auteur : " Agrawal VishwaniD." - Éditeur : Tous - Référence : Toutes - Format : Tous

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Téléchargez le livre numérique: Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Sachdev Manoj , Agrawal VishwaniD. , Gyvez JoséPinedade
Springer US
ISBN : 9780387465470 " About this book Failures of nano-metric technologies owing to defects and shrinking...
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