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From Physical Properties to Opto-electronic Devices and X-ray Sensors
This book will provide readers with a good overview of some of most recent advances in the field of technology for perovskite materials. There will be a good mixture of general chapters in both technology and applications in opto-electronics, Xray detection and emerging transistor structures. The book will have an in-depth review of the research topics from world-leading specialists in the field. The authors build connections between the materials’ physical properties to the main applications such as photovoltaics, LED, FETs and X-ray sensors. They also discuss the similarities and main differences when using perovskites for those devices.
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Krzysztof (Kris) Iniewski is managing R&D development activities at Redlen Technologies Inc., a detector company based in British Columbia, Canada. During his 15 years at Redlen he has managed development of highly integrated CZT detector products in medical imaging and security applications. Prior to Redlen Kris hold various management and academic positions at PMC-Sierra, University of Alberta, SFU, UBC and University of Toronto.
Dr. Iniewski has published over 150+ research papers in international journals and conferences. He holds 20+ international patents granted in USA, Canada, France, Germany, and Japan. He wrote and edited several books for Wiley, Cambridge University Press, Mc-Graw Hill, CRC Press and Springer. He is a frequent invited speaker and has consulted for multiple organizations internationally.
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