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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

B. Nadeau-Dosti , M. Becker

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers...

Parution : 1999

Format(s) : PDF

Éditeur : Kluwer Academic Publishers

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120,75 €

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