Biographie et livres de Chao-Kun Hu

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Chao-Kun Hu has recently retired as a Research Staff Member in the Reliability Department at the T.J. Watson Research Center of IBM. He received IBM Corporate awards, IEEE Cledo Brunetti award, EDS Recognition and IITC Best Paper awards, and Invention of the Year NY Intellectual Property Law Association.

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Electromigration in Metals

Martin Gall , Paul S. Ho , Chao-Kun Hu , Valeriy Sukharev

Cambridge University Press

2022-05-12

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Learn to assess electromigration reliability and design more resilient chips in this comprehensive and practical resource. Beginning with fundamental physics and building to advanced methodologies, this book enables the reader to develop highly...

96,04 €

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