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Ajouter à ma liste d'envies System-on-Chip Test Architectures Charles E. Stroud , Nur A. Touba , Laung-Terng Wang Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed the semiconductor industry to keep pace with the increased performance-capacity demands from... Parution : 2010-07-28 Format(s) : PDF sans DRM Éditeur : Morgan Kaufmann J'achète 66,73 €

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System-on-Chip Test Architectures

Charles E. Stroud , Nur A. Touba , Laung-Terng Wang

Modern electronics testing has a legacy of more than 40 years. The introduction of new technologies, especially nanometer technologies with 90nm or smaller geometry, has allowed the semiconductor industry to keep pace with the increased performance-capacity demands from...

Parution : 2010-07-28

Format(s) : PDF sans DRM

Éditeur : Morgan Kaufmann

J'achète

66,73 €

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