Biographie et livres de David E. Root

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David E. Root is Keysight Research Fellow at Keysight Technologies, Inc., and a Fellow of the IEEE. He is a co-author of X-Parameters (Cambridge, 2013) and a co-editor of Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques (Cambridge, 2011).

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Nonlinear Circuit Simulation and Modeling

Luís Cótimos Nunes , José Carlos Pedro , David E. Root , Jianjun Xu

Cambridge University Press

2018-06-14

PDF, ePub

Discover the nonlinear methods and tools needed to design real-world microwave circuits with this tutorial guide. Balancing theoretical background with practical tools and applications, it covers everything from the basic properties of nonlinear...

113,28 €

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