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Ajouter à ma liste d'envies Electromigration Modeling at Circuit Layout Level Feifei He , Cher Ming Tan Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.... Parution : 2013-03-16 Format(s) : ePub Éditeur : Springer Collection : SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology J'achète 52,74 €

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Electromigration Modeling at Circuit Layout Level

Feifei He , Cher Ming Tan

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels....

Parution : 2013-03-16

Format(s) : ePub

Éditeur : Springer

Collection : SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology

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