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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching


Gerd Kaupp


Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in...

Parution : 2006-10-24
Format(s) : PDF
Éditeur : Springer
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239,99

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