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Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors

Jeroen A. Croon , Herman E. Maes , Willy M Sansen

Matching Properties of Deep Sub-Micron MOS Transistors examines this interesting phenomenon. Microscopic fluctuations cause stochastic parameter fluctuations that affect the accuracy of the MOSFET. For analog circuits this determines the trade-off between speed, power,...

Parution : 2006-06-20
Format(s) : PDF
Éditeur : Springer
Collection : The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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