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Leakage in Nanometer CMOS Technologies

Anantha P. Chandrakasan , Siva G. Narendra

Scaling transistors into the nanometer regime has resulted in a dramatic increase in MOS leakage (i.e., off-state) current. Threshold voltages of transistors have scaled to maintain performance at reduced power supply voltages. Leakage current has become a major portion...

Parution : 2006-03-10

Format(s) : PDF

Éditeur : Springer

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